| 分類 |
項目 |
| 観察 |
光学顕微鏡写真 |
| SEM写真 |
| レーザ顕微鏡写真 |
| X線透視写真 |
| クロスセクション試料作成 |
| 分析 |
EDS元素分析 |
| オージェ分析 |
| 原子吸光分析 |
| FT-IR分析チャート |
| 吸光度測定 |
| 物性試験 |
銅メッキ皮膜物性試験 |
| ホットオイル試験 |
| 導体引き剥がし試験 |
| フットプリント引き離し試験 |
| スルーホール引き抜き試験 |
| はんだ接合強度試験 |
| ソルダーレジスト密着性 |
| 耐溶剤性試験 |
| リフロー試験 |
| はんだ濡れ性試験 |
| チップせん断強度試験 |
| はんだフロート試験 |
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| 分類 |
項目 |
| 環境試験 |
冷熱衝撃(サイクル)試験 |
| HAST(PCT)試験 |
| 恒温恒湿試験 |
| 恒温恒湿試験(電圧印加) |
| 結露サイクル試験 |
| マイグレーション試験 |
| 高温試験 |
| 高温試験(電圧印加) |
| 低温恒湿試験 |
| 塩水噴霧試験 |
| 測定 |
絶縁抵抗値 |
| 耐電圧 |
| スルーホール抵抗値 |
| 2次元測長 |
| めっき膜厚(Ni-Au) |
| レジスト膜厚 |
| 穴加工品質 |
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