試料にX線を照射して、発生した蛍光X線を直接に半導体検出器を用いエネルギー分析を行う方法です。 非破壊分析に使用、測定が簡便迅速、前処理が簡易、準備が容易、広い範囲の元素分析が可能、広い濃度範囲の定性・定量分析が可能、化学的状態に影響されない、等の特徴があります。
弊社の蛍光X線分析装置は、さらに次のような特徴があります。
アワーズテック株式会社は、21世紀の環境保全、材料開発に不可欠な]線要素技術を駆使し小型・省エネ・省資源・低コスト・高性能・利便性を付加した装置造りに専念しています。 オプションもございますので、ご要望をお聞かせくだされば、最適なシステム構成をご提案させていただきます。