エネルギー分散型蛍光X線分析装置
アワーズテック株式会社 試験・分析.com
取り組み ラインナップ 会社概要 お問い合わせ
100FA 110II 140 150 150RoHS 160 SDDシステム
エネルギー分散型蛍光X線分析装置 OURSTEX　100FA
考古学・文化財試料に最適（可般/オンサイト分析に）
1
H		                                 2
He
3
Li		 4
Be		                     5
B		 6
C		 7
N		 8
O		 9
F		 10
Ne
11
Na		 12
Mg		                     13
Al		 14
Si		 15
P		 16
S		 17
Cl		 18
Ar
19
K		 20
Ca		 21
Sc		 22
Ti		 23
V		 24
Cr		 25
Mn		 26
Fe		 27
Co		 28
Ni		 29
Cu		 30
Zn		 31
Ga		 32
Ge		 33
As		 34
Se		 35
Br		 36
Kr
37
Rb		 38
Sr		 39
Y		 40
Zr		 41
Nb		 42
Mo		 43
Tc		 44
Ru		 45
Rh		 46
Pd		 47
Ag		 48
Cd		 49
In		 50
Sn		 51
Sb		 52
Te		 53
I		 54
Xe
55
Cs		 56
Ba		 57-71
ランタ
ノイド		 72
Hf		 73
Ta		 74
W		 75
Re		 76
Os		 77
Ir		 78
Pt		 79
Au		 80
Hg		 81
Tl		 82
Pb		 83
Bi		 84
Po		 85
At		 86
Rn
87
Fr		 88
Ra		 89-103
アクチ
ノイド		 104
Rf		 105
Db		 106
Sg		 107
Bh		 108
Hs		 109
Mt		                  
ランタノイド 57
La		 58
Ce		 59
Pr		 60
Nd		 61
Pm		 62
Sm		 63
Eu		 64
Gd		 65
Tb		 66
Dy		 67
Ho		 68
Er		 69
Tm		 70
Yb		 71
Lu
アクチノイド 89
Ac		 90
Th		 91
Pa		 92
U		 93
Np		 94
Pu		 95
Am		 96
Cm		 97
Bk		 98
Cf		 99
Es		 100
Fm		 101
Md		 102
No		 103
Lr

 
測定可能

特徴
  1. 非破壊で迅速な元素分析ができます。
  2. 大型試料や異形試料を非接触でも分析できます。
  3. シャープなヘッド形状で湾曲した試料も近づけて分析できます。
  4. 小型・軽量の可搬式なのでオンサイト分析が可能です。
  5. 液体窒素や冷却水などが不要で100Vの電源だけで分析が可能です。
  6. インライン分析に応用可能です。
考古学、犯罪捜査、環境計測等の分野では、測定対象物を分析装置に持って行くのでは無く、測定対象物の現場に分析装置を持ち込んで、現場の条件に合わせた測定を行う必要があります。
アワーズテックでは、コンパクトで測定環境に左右され難く、高感度な蛍光X線分析装置を提供します。


測定点がレーザービームによって一目で確認できます。

先端部をスリム化し、様々な形状の試料に対しても対応できます。
京都府　角屋

文化財での蛍光X線分析例
近年、重要文化財の修復・保存のための化学分析の必要性は大きくなっています。しかしながら、重要文化財の多くは、測定対象物を持ち出すことが出来ず、非破壊分析でなくてはなりません。

そこで可搬型蛍光X線分析装置での分析が注目され始めています。

協力　名古屋市立大学

考古学分野への適用
土壁の分析例

応用例
  • 考古学上の調査・分析
  • 科学捜査の分析
  • スクラップ材料の材質判定
  • 各種工業材料の研究開発評価や品質管理分析
    （メッキや蒸着の膜厚測定）
  • 廃棄物処理後の成分分析（廃棄物処理規制）
  • 土壌中の有害重金属の分析
    （市街地土壌の汚染対策新制度対応）
  • 大学・研究機関の材料研究・分析

    その他、固体・粉体・液体の形態を問わず分析が可能。

仕様
測定原理 エネルギー分散型蛍光X線分析法
測定対象 固体・粉体・液体・薄膜・生体試料
測定元素 12Mg～92U
試料形状 MAX35mmφ×35mmH（密閉使用時）
開放使用時は任意
試料室雰囲気 大気、（真空：オプション）
X線照射径 ～3mmφ
X線管ターゲット Pd
X線定格出力 40kV-1.75mA、50W
検出器 シリコンドリフトディテクタ（SDD）
計数回路 デジタルシグナルプロセッサ（DSP）
分析ソフトウェア 自動定性分析・検量線法定量分析
CPU ノート型パソコン（PC/AT互換機）
その他オプション カラープリンタ、マウス、アルミ製キャリングケース、ポータブル発電機、測定ヘッド保持用三脚（ポインター機能付）、真空用試料キャップ、照射ボックス、遮蔽ボックス、他
使用条件 温度：5～30℃
湿度：20～80％
電源：AC100V、5A（50/60Hz）
接地：D種接地
※液体窒素、冷却水、分析用ガス等は不要
外形寸法・質量 測定ヘッド部：133×170×273mm、3.9kg
XG部：300×350×177mm、11.5kg
コントローラ部：300×350×147mm、8.5kg
真空ポンプ：190×177×132mm、3kg

お問い合わせ

アワーズテック株式会社は、21世紀の環境保全、材料開発に不可欠なⅩ線要素技術を駆使し小型・省エネ・省資源・低コスト・高性能・利便性を付加した装置造りに専念しています。
オプションもございますので、ご要望をお聞かせくだされば、最適なシステム構成をご提案させていただきます。

お問い合わせはこちら
■このホームページの企画・製作ならびに運営はサイバーナビ株式会社のＷＥＢプロモーションサービスを利用して行っております。