エネルギー分散型蛍光X線分析装置
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100FA 110II 140 150 150RoHS 160 SDDシステム
エネルギー分散型蛍光X線検出器と計数回路 OURSTEX　シリコンドリフトディテクタシステム
学校・研究所での基礎実験用

特徴
  1. 高エネルギー分解能→FWHM＜150eV＠5.9keV
  2. 高計数率→入射カウント数 ～106cps
  3. 電子冷却→液体チッ素不要
  4. T08パッケージ→小型、軽量化
  5. 使用温度範囲が広い→常温（25℃）でも使用可

用途
  • X線回折・蛍光X線分析
  • 全反射蛍光X線分析
  • 放射光を用いた分析
  • 学校・研究所での基礎実験用

エネルギー分解能の比較
SDD
 Si-PIN

仕様
検出器（SDD）仕様
有効受光面積 5mm2、10mm2
結晶厚み 450μm
検出器ハウジング T08
入射窓 8μm Be　又は　特殊極薄高分子膜
コリメータ Zr
冷却システム ペルチェ素子
温度制御範囲 0℃～-20℃　 at　室温25℃
温度モニタ付  
計数回路（DSP）仕様
デジタルシグナルプロセッサはメインアンプ（パルスプロセッサ）とMCAが1枚の基板にまとめられたコンパクト・高性能型
ゲインコントロール付  
パイルアップリジェクション付  
使用条件 温度：0～30℃
湿度：20～80％
電源：AC100V±10％、2A
接地：D種接地
※液体窒素は不要

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アワーズテック株式会社は、21世紀の環境保全、材料開発に不可欠なⅩ線要素技術を駆使し小型・省エネ・省資源・低コスト・高性能・利便性を付加した装置造りに専念しています。
オプションもございますので、ご要望をお聞かせくだされば、最適なシステム構成をご提案させていただきます。

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