エネルギー分散型蛍光X線分析装置
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100FA 110II 140 150 150RoHS 160 SDDシステム
エネルギー分散型蛍光X線分析装置 OURSTEX　150
土壌汚染状況調査・浄化作業評価に
1
H		                                 2
He
3
Li		 4
Be		                     5
B		 6
C		 7
N		 8
O		 9
F		 10
Ne
11
Na		 12
Mg		                     13
Al		 14
Si		 15
P		 16
S		 17
Cl		 18
Ar
19
K		 20
Ca		 21
Sc		 22
Ti		 23
V		 24
Cr		 25
Mn		 26
Fe		 27
Co		 28
Ni		 29
Cu		 30
Zn		 31
Ga		 32
Ge		 33
As		 34
Se		 35
Br		 36
Kr
37
Rb		 38
Sr		 39
Y		 40
Zr		 41
Nb		 42
Mo		 43
Tc		 44
Ru		 45
Rh		 46
Pd		 47
Ag		 48
Cd		 49
In		 50
Sn		 51
Sb		 52
Te		 53
I		 54
Xe
55
Cs		 56
Ba		 57-71
ランタ
ノイド		 72
Hf		 73
Ta		 74
W		 75
Re		 76
Os		 77
Ir		 78
Pt		 79
Au		 80
Hg		 81
Tl		 82
Pb		 83
Bi		 84
Po		 85
At		 86
Rn
87
Fr		 88
Ra		 89-103
アクチ
ノイド		 104
Rf		 105
Db		 106
Sg		 107
Bh		 108
Hs		 109
Mt		                  
ランタノイド 57
La		 58
Ce		 59
Pr		 60
Nd		 61
Pm		 62
Sm		 63
Eu		 64
Gd		 65
Tb		 66
Dy		 67
Ho		 68
Er		 69
Tm		 70
Yb		 71
Lu
アクチノイド 89
Ac		 90
Th		 91
Pa		 92
U		 93
Np		 94
Pu		 95
Am		 96
Cm		 97
Bk		 98
Cf		 99
Es		 100
Fm		 101
Md		 102
No		 103
Lr

 
測定可能
 
得意な測定

特徴
  1. 非破壊で迅速な元素分析ができます。
  2. 装置がコンパクトで、持ち運びができ、オンサイト分析が可能です。
  3. 微量有害金属元素を短時間で高感度測定します。
  4. 土壌中の有害元素分析に対応できます。
  5. 液体窒素や冷却水などが不要で、100V電源だけで分析可能です。
  6. 簡単操作（報告書作成サポート機能付属）。

土壌汚染対策法
2003年2月15日施行

2003年「土壌汚染対策法」が施行され従来の溶出試験に加えて含有量試験の実施も義務付けられることになりました。
OURSTEX150はコンパクトで持ち運びが可能な為、これら重金属含有基準値に対して現場での判別が簡単・迅速に行えます。
対象項目 元素 土壌溶出基準 土壌含有基準
カドミウム及びその化合物 Cd 0.01mg/ｌ　以下 150mg/kg　以下
鉛及びその化合物 Pb 0.01mg/ｌ　以下 150mg/kg　以下
六価クロム化合物 Cr 0.05mg/ｌ　以下 250mg/kg　以下
砒素及びその化合物 As 0.01mg/ｌ　以下 150mg/kg　以下
水銀及びその他の化合物 Hg 0.0005mg/ｌ　以下 15mg/kg　以下
セレン及びその化合物 Se 0.01mg/ｌ　以下 150mg/kg　以下
測定事例（土壌・岩石中の有害重金属分析）

サンプリング
検査区画決定、ボーリング・・

試料処理
乾燥・粉砕・・・

分析例
◆汚染土壌試料　測定波形例
 ◆土壌管理試料によるCd（カドミウム）検量線
　　作成例
◆有害物質の検出下限
　 （基準値）
元素 測定時間
  300sec
Cd 3mg/kg
Pb 4mg/kg
Cr 50mg/kg
As 4mg/kg
Hg 6mg/kg
Se 4mg/kg
◆土壌試料測定前処理例

1.サンプリング
試料
2.乾燥処理
3.選別処理
（2mm）

4.粉砕処理
5.選別処理
（150μm）
6.選定 		 

仕様
測定原理 エネルギー分散型蛍光X線分析法
測定対象 土壌・電子材料・プラスチック
測定元素 20Ca～92U
試料形状 最大80mmφ×80mmH
試料室雰囲気 大気
X線定格出力 48kＶ　1mA
装置構成 検出器 電子冷却式シリコンドリフトディテクタ
計数回路 デジタル処理方式
ソフトウェア 自動定性分析・検量線法定量分析
使用条件 温度 5～27℃
湿度 20～75％
電源 AC100V、5A（50/60Hz）D種接地
寸法 580（W）×490（D）×390（H）mm
質量 約44kg
CCDカメラ 試料位置確認用に使用（オプション）
コンピュータ
（オプション）		 データ整理、データ印字に使用
PC/AT互換機（Windows XP）
インクジェット式カラープリンタ

お問い合わせ

アワーズテック株式会社は、21世紀の環境保全、材料開発に不可欠なⅩ線要素技術を駆使し小型・省エネ・省資源・低コスト・高性能・利便性を付加した装置造りに専念しています。
オプションもございますので、ご要望をお聞かせくだされば、最適なシステム構成をご提案させていただきます。

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