落下試験・衝撃試験をハイスピードカメラとソフトで観察・解析

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ナック ハイスピードカメラ解析システム
落下試験・衝撃解析

ハイスピードカメラを活用した落下衝撃時の変形衝撃量を定量解析するシステムです。
被写体の落下着地姿勢を高精度に制御可能な落下試験機を用いて撮影します。
撮影した映像上のターゲットポイントを動作解析ソフトウェア「MOVIAS Neo」で自動トラッキングし、落下時の変位・速度などのデータ算出ができます。
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ハイスピードカメラ解析システム「落下試験・衝撃解析」の活用例

業種
  • ・電子電機機器
  • ・食品・飲料
  • ・化粧品
  • ・薬品・薬剤
  • ・部品 など
対象
  • ・スマートフォン
  • ・携帯電話
  • ・タブレット
  • ・ノートパソコン
  • ・電子辞書
  • ・ペットボトル など

落下試験・衝撃解析のシステム構成例

ハイスピードカメラ応用事例 「落下試験」イメージ

ハイスピードカメラ応用事例
「落下試験」

被写体の落下着地姿勢を高精度に制御可能な落下試験機を用いて、対象物をナックハイスピードカメラで撮影します。
撮影した映像上のターゲットポイントを動作解析ソフトウェア「MOVIAS Neo(ムービアスネオ)」で自動トラッキング。得られた座標データから速度・変位などのデータを出力・定量解析できます。

また、アナログ波形データをインポートすることで波形・座標・動画の同期表示やその表示を動画出力できます。ハイスピードカメラを2台使用すれば三次元解析も可能です。

撮影部|ハイスピードカメラを選択 ※全てのMEMRECAMが対応しています

ハイスピードカメラi-SPEED726

ハイスピードカメラi-SPEED726 イメージ

ハイスピードカメラ
i-SPEED726

  • 解像度:2,048×1,536 pixel
  • 撮影速度:100〜1,000,000 fps
  • 記録時間:30.9秒以上(1,000 fps、96GB)

ハイスピードカメラ MEMRECAM MX

ハイスピードカメラ MEMRECAM MX イメージ

ハイスピードカメラ
MEMRECAM MX

1台の本体部“MX-5”に最大4台のフルHD小型カメラヘッド“M-Cam”を接続して同期撮影が可能なハイスピードマルチカメラシステム

  • ISO感度 カラー / モノクロ:8,000 / 32,000
  • 解像度:1,920×1,080pixel
  • 撮影速度:50〜100,000fps
  • 記録時間:2.0秒以上(1,000fps、4GB、8bit時)

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試験機

落下試験機DT-202/205

落下試験機 DT-202(左) DT-205(右) イメージ

落下試験機
DT-202(左) DT-205(右)

高精度な落下姿勢制御機能により、試験対象の試料を上部 でチャックした姿勢のまま着地させることが可能です。
繰り返し行う落下試験でも、常に安定した再現性のある実験結 果を得ることができます。

試験機本体はコンパクトに設計さ れており、狭い実験室への据え付けも可能。また、AC100V で動作するため専用の電源工事も必要ありません。

解析部|目的に合わせた解析ソフトウェアを選択

動作解析ソフトウェア MOVIAS Neo(ムービアスネオ)

MOVIAS Neoでの解析画面 イメージ

MOVIAS Neoでの解析画面

ハイスピードカメラなどで撮影された映像データを元に定量解析を行うソフトウェアです。被写体のマーカや特徴点を自動的にトラッキング(追尾)し、トラッキングした対象点の位置、変位、速度、加速度などを定量解析します。

解析結果は、グラフやリスト、スティック表示など様々な出力に対応しています。

アナログ波形データ収集装置

波形データとの同期解析 イメージ

波形データとの同期解析

ハイスピードカメラMEMRECAMシリーズ専用ソフトウェア GX/HX-Linkでカメラの制御、外部アナログ波形データの設定・取込・保存が容易に行える装置です。

ハイスピードカメラ解析システム「落下試験・衝撃解析」のお問い合わせ

ナックイメージテクノロジーでは、ハイスピードカメラ・キャプチャーカメラを中心に、映像データを利用した各種計測・解析ソフトを取り揃えています。

ハイスピードカメラと落下試験機を組み合わせた「落下試験」や「衝撃試験」の計測・解析についてのご相談や資料請求など、お気軽にお問い合わせください。

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