絶縁抵抗試験

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評価事例-絶縁抵抗試験などの電子部品の電気的特性試験

絶縁抵抗試験等の電子部品の電気的特性試験 / 半導体デバイスの耐候性試験 /
ラッチアップ試験 / 静電破壊試験 / 半導体デバイスの機械的試験

 電子部品の電気的特性試験(絶縁抵抗試験等)

プリント配線基板の絶縁性や導通性又、その基板に実装するコンデンサー、抵抗器容量等の品質評価(受入検査、認定検査、定期検査)として、絶縁抵抗試験などの下記のような電気的特性試験を行っております。又、環境試験と組み合わせた信頼性試験も行っております。
部品 検査事例 測定器 測定範囲
プリント配線基板 スルーホール抵抗測定 低抵抗計 0.1mΩ〜200kΩ
層間のAC耐圧測定 絶縁耐圧計 印加電圧:5KV Max
リーク電流:0.5〜100mA
層間又はパターン間の
絶縁抵抗試験
超絶縁抵抗計 印加電圧:10〜1,000VDC
0.5MΩ〜1010
コンデンサー

タンタル、チップ、
積層セラミック、電解
絶縁抵抗試験(漏洩電流)
静電容量(C)測定 インピーダンス
アナライザー
印加電圧:5mV〜1.1V
周波数  :5Hz〜13MHz
C   :0.1pF〜100F
tanδ:0.0001〜20
L   :0.01nH〜1kH
R   :0.1mΩ〜1.3MΩ
誘電正接(tanδ)測定
リアクタンス分(L)測定
抵抗分(R)測定
抵抗器
チップ、厚膜
抵抗分(R)測定 デジタルマルチ
メータ
0.01Ω〜100MΩ
ダイオード 一般的なダイオード
特性測定
トランジスター
テスタ
電圧:10mV〜1,000V
電流:10nA〜10A
トランジスター 一般的なトランジスター
特性測定

プリント配線基板の不具合事例

温度サイクル試験との組み合わせでスルーホールの劣化状況がスルーホール抵抗で確認できます。
また、電極部のクラック及び樹脂部の剥離等については、断面研磨による不良解析も行っております。


 プリント配線基板のスルーホール断面

プリント配線基板のスルーホール断面


 絶縁抵抗試験などのお問い合わせ

絶縁抵抗試験用試験装置などの電気試験装置、各種環境試験装置、機能検査のためのテスタ、万一の不良解析のための走査形電子顕微鏡、電子線マイクロアナライザ、超音波探傷装置、エミッション顕微鏡などをはじめとする解析装置を揃え、電子部品・半導体の信頼性試験総合アウトソーシングソリューションを提供いたします。絶縁抵抗試験などでご不明な点がございましたら、お気軽にお問い合わせください。

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