※ご連絡※
株式会社ルネサスクオリティエンジニアリングは、下記のとおり社名を変更することになりました。
受託試験業務については従来通り継続し、さらなる業容の充実を目指して参りますので
一層のご支援を賜りますようお願い申し上げます。
- 新社名（新商号）
- ルネサス北伊丹エンジニアリングサービス株式会社
- 変更日
- 2010年3月1日
品質試験部は、IECQ制度（IEC 電子部品品質認証制度：正式名称IEC Quality Assessment System for Electronic Components）に基づくIECQ独立試験所の認定を取得しました。
認定番号：RCJ-07T-02A
■ IECQ独立試験所の認定取得
（ISO/IEC17025：2005による）
独立試験所 ： 品質試験部
電子部品・半導体の試験・評価における計画からテストプログラム作成、試験用治具の製作、故障解析まで品質保証を支援いたします。
各種環境試験装置、機能検査のためのテスタ、万一の不良解析のための走査形電子顕微鏡、電子線マイクロアナライザ、超音波探傷装置などをはじめとする解析装置を揃え、電子部品・半導体の信頼性試験総合アウトソーシングソリューションを提供いたします。
対応可能な試験項目
耐量評価試験
デバイス取り扱い等により受ける静電気への耐性を評価する静電破壊耐量試験、寄生バイポーラ構造を介して生じる一時的な電源とグランド間の短絡現象に対する耐性を評価するラッチアップ試験を実施します。
その他特殊試験
試験項目紹介
- パッケージの気密性試験
- マーキング（表示又は塗料）の耐溶剤性試験
- 塩水に対する耐食性
- パッケージの耐熱性
- デバイスのワイヤ引張強度
- チップのダイ（DIE)せん断強度
- 絶縁耐圧
試験装置
- Heリーク試験装置
- グロスリーク試験装置
- 耐溶剤性試験
溶剤：イソプロピルアルコール、アセトン他 - 塩水噴霧試験装置
- 赤外線リフロー装置
- 超音波探傷装置（SAT）
- ワイヤ引張り強度試験機
- DIE SHEAR 強度試験機
- 絶縁耐圧試験機
テストプログラム・関連ソフト開発
LSIテストプログラム開発
お客様のニーズに合った、LSIテストプログラムを短TATで開発いたします。弊社のLSIテスターを使用したデバイス試験もサポートいたします。
【開発実績】
- メモリデバイス（フラッシュ、SRAM、SDRAM、DPRAM）
- マイコンデバイス
- 汎用ロジックデバイス
- A/D,D/Aコンバータ
ソフトウェア開発
LSIテスター関連のソフトウェアを開発してまいりました。今後はLSIテスター関連以外の幅広い分野でのソフトウェア開発も推進してまいります。
【開発実績】
- テストプログラム開発支援GUIツール
- テストプログラムのコンパイラ
- テストプログラムのコンバータ
- リアルタイムH/W制御システム
- H/Wの校正／診断プログラム
お客様に信頼いただけるエンジニア育成のために、情報処理の資格取得を推進しております。
【保有資格】
・アプリケーションエンジニア ・ソフトウェア開発技術者 ・第二種情報処理技術者
半導体検査などのお問い合わせ
各種環境試験装置、半導体や電子部品の機能検査のためのテスタ、万一の不良解析のための走査形電子顕微鏡、電子線マイクロアナライザ、超音波探傷装置、エミッション顕微鏡などをはじめとする解析装置を揃え、電子部品・半導体の信頼性試験総合アウトソーシングソリューションを提供いたします。お気軽にお問い合わせください。
