信頼性試験受託サービス(ゲートリーク試験)

主にゲートリーク試験を行っています。詳細はお問合せください。

ORS社(Oneida Research Services)の分析サービス一覧

  • IVA/HR-IVA分析(封止パッケージ(半導体や電子部品)内の水分量、ガス成分分析)
  • 封止パッケージの気密性試験(ヘリウムリーク試験及びKr85 リーク試験)
  • DPA : Destructive Physical Analysis(破壊的物理分析:規格準拠の製品テスト)
  • X線顕微鏡による3次元解析

ORS社は、アメリカ政府の認定分析機関で、MIL規格(MIL-STD-883/750)に準じた封止パッケージ内の水分量、ガス成分分析(IVA分析)を得意としています。IVA分析においては約30年の歴史があり、自社で分析装置の開発・販売を行っています。

様々なパッケージ形状に対応するために特別な冶具を数多く作製しておりますので応用範囲が広く、半導体パッケージ以外にも医療機器やプラスチックバックなども分析可能です。また、微小なリークに対応ができるKr85リーク試験(ラジフロ試験)のサービスも行っております。

信頼性試験の分析事例紹介

■信頼性試験後の異常箇所の評価

各種信頼性試験後に、異常箇所の特定をX線顕微鏡や超音波顕微鏡(CSAM)を使って行うことができます。
X線顕微鏡観察例

X線顕微鏡観察例(観察画像)

異常箇所特定後、異常箇所の断面をSEMで観察することができます。
異常箇所の断面観察の一例

異常箇所の断面観察の一例(観察画像)

信頼性試験の受託サービスについてのお問い合わせ

ナノサイエンス株式会社は、EAG社の一員として、各種表面分析(SIMS分析他)、環境影響評価試験やゲートリーク試験などの信頼性試験の受託サービスを提供します。
社員一人ひとりが幅広い知識を持ち、ユーザーに対して提案・アドバイス及び的確なサポートでお応えします。世界一流技術を通じて、表面分析や信頼性試験のあらゆるニーズに即応します。

 

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