保有設備一覧

表面観察

  • 走査透過電子顕微鏡(STEM):日立 HD-2700
  • 走査電子顕微鏡(SEM-EDX):日立 SU6600
  • 走査電子顕微鏡(SEM-EDX):日立 S-4800
  • 走査電子顕微鏡(SEM-EDX、WDX):日立 S-3500N
  • 走査電子顕微鏡(SEM-EDX):日立 S-3700N
  • 透過電子顕微鏡(TEM-EDX):日立 HF-2100
  • 透過電子顕微鏡(TEM-EDX):日立 H-9000NAR

耐摩性評価

  • ピンオンデイスク摩耗試験機
  • ファレックス摩耗試験機
  • 往復摺動摩耗試験機
  • ころがり摩耗試験機
  • フレッチング摩耗試験機
  • 磁歪振動型微小変位摩耗試験機
  • 周速摩耗摩擦試験機

表面観察(加工観察)

  • 集束イオンビーム(FIB):日立 FB-2100

強度評価(機械試験)

  • 精密万能試験機(100N〜100kN)
  • 精密万能試験機(100N〜100kN、2.5N〜25kN)
  • 万能試験機
  • シャルピー衝撃試験機
  • 硬さ試験機(ロックウエル、ブリネル、ショアー)
  • 硬さ試験機(ビッカース)
  • 表面あらさ計

組成分析(元素分析)

  • 蛍光X線分析装置(XRF):理学電機 3270
  • 昇温脱離ガス分析装置(TDS):ESCO電子科学 EMD-WA1000
  • イオンクロマトグラフ(IC):ダイオネクス DX-500、DX-320
  • イオンクロマトグラフ(IC):ダイオネクス SIC-1500、SIC-2000
  • イオンクロマトグラフ(IC):ダイオネクス DX-100
  • ガスクロマトグラフマトグラフ(GC):日立 G-3000
  • ガスクロマトグラフマトグラフ(GC):日立 663-30
  • ガスクロマトグラフマトグラフ(GC):日立 G3900
  • ガスクロマトグラフマトグラフ(GC):日立 163
  • ガスクロマトグラフマトグラフ(GC):島津 GC-2010

強度評価

  • ひずみ測定器
  • 疲労試験装置
  • 疲労解析装置

表面分析(元素分析)

  • マーカス型高周波グロー放電発光分光分析装置:堀場製作所 GD-Profiler2
  • 走査型オージェ電子分光分析装置(AES):アルバック・ファイ PHI 700Xi
  • X線光電子分光分析装置(XPS):島津/クラトス AXIS-HS
  • X線光電子分光分析装置(XPS):アルバック・ファイ PHI5000 VersaProbe U

シミュレーション

  • 応力解析装置
  • 鋳造解析装置

結晶構造解析

  • X線回折装置(XRD):理学電機 RU-300
  • X線回折装置(XRD):理学電機 RAD-B
  • 高分解能X線回折装置(XRD,XRR):理学電機 ATX-G
  • 多機能X線回折装置(XRD):理学電機 RINT2500HL
  • X線回折装置(XRD):日本電子 JDX-8030
  • X線回折装置:PANalytical製 X'pert PRO-MPD PW3040/60 DY2310
  • X線回折装置(XRD):理学電機 RINT2500HL
  • X線回折装置(XRD):ブルカー・エイエックスエス製D8ADVANCE/L
  • フェライト測定器

腐食評価

  • 全自動分極測定装置
  • 還流型腐食試験装置
  • 高温、高圧小型腐食試験装置
  • 電気化学腐食測定システム

有機構造解析(分子構造、元素分析)

  • フーリエ変換型赤外分光光度計(FT-IR):バイオ・ラッド FTS-40A
  • フーリエ変換型赤外分光光度計(FT-IR):DIGILAB FTS3000 MX
  • フーリエ変換型赤外分光光度計(FT-IR):パーキンエルマ 1650
  • ガスクロマトグラフ質量分析計(GC-MS):日立 M-2500
  • ガスクロマトグラフ質量分析計(GC-MS):島津 OP-5000
  • ガスクロマトグラフ質量分析計(GC-MS):HP 5890/5971A
  • ガスクロマトグラフ質量分析計(GC-MS):日本電子 JMS-700M Station
  • 核磁気共鳴分析装置(NMR):日本電子 GSX-400
  • 核磁気共鳴分析装置(NMR):日本電子 ECA500
  • 分光光度計(UV-NIR):日立 U-4100

組織外観観察

  • 万能投影機
  • システム光学顕微鏡
  • 偏光顕微鏡
  • 光学顕微鏡
  • 大型マクロ写真装置

放射能分析

  • γ核種放射能測定装置:セイコーEG&G MCA-7700
  • α核種放射能測定装置 :アロカ JDC-8170
  • α・β核種放射能測定装置 :アロカ LBC-471-P
  • β核種放射能測定装置 :アロカ LSC-5000

食品分析

  • ガスクロマトグラフ質量分析計(GC-MS/MS)
  • 液体クロマトグラフ質量分析計(LC-MS/MS)

その他

  • X線残留応力測定装置:理学電機 PSF-2M
  • 微粒子自動計測器:ハイアックロイコ 4100

お問い合わせ

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ご質問・ご要望等ございましたら、お気軽にお問い合わせください。


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